美國CalMetrics鍍層測厚儀錫校正片

品牌： Calmetrics      產地：美國      型號：Ni-P / XX

美國CalMetrics鍍層測厚儀錫校正片(standard)，標準片通過A2LA(American Association for Laboratory Accreditation)認證，都是美國原廠制作標準片的專業認證公司。

特色：標準片NIST、A2LA校正認證，質量精良，精度高、穩定性好、價格實惠。

       奔藍科技昆山分公司是美國Calmetrics國內一級代理商，附有美國Calmetrics公司頒發的代理證書。測厚儀標準片又名膜厚儀校準片或者薄膜片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。

以下是美國CalMetrics鍍層測厚儀錫校正片部分規格（可根據您的要求特別訂制）：

錫(Sn/XX) 14種常用規格：

 吳生：151九零一九4078   136零二五五1959

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