牛津儀器半導體全自動臺光譜儀     牛津儀器半導體全自動臺光譜儀

鍍層測厚儀 MAXXI 6

產地：德國      品牌：牛津儀器OXFORD      型號：MAXXI6

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鍍層測厚儀類：牛津光管、高壓包、接收器、鍍層標準片、Z軸控制板、24V電源等。。。

銅厚測厚儀類：孔銅探頭、面銅探頭、孔銅標準片、面銅標準片等。。。

鍍層測厚儀MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產品質量的*性和高品質。

• 高分辨率的硅漂移器（SDD）
• 開槽式超大樣品艙設計
• 8個準直器
• USB接口與計算機連接

鍍層測厚儀MAXXI 6是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。

鍍層測厚儀 MAXXI 6 配備多準直器系統及超大樣品艙，針對較薄而復雜的樣品，具有*的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的¹³Al到⁹²U。

亮點

1. 采用微聚焦X射線光管，實現高精度、高可靠性、測量時間短、購置成本低；
2. 采用高分辨率的硅漂移探測器（SDD），提供能量級別的*效率，極低的檢出限（LOD）；

3、多準直器可優化不同尺寸樣品熒光信號產額，提高測量效率；

1. 開槽式超大樣品艙設計，十分適合電路板或其他超大平板樣品；
2. “USB接口”只需通過USB與計算機連接，無需額外的硬件或軟件；
3. 德國制造，符合zui高工程標準，堅固耐用的設計可實現長期可靠性；
4. 通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認證，滿足zui高輻射安全標準。

性能及符合性

1. zui多同時測定5層，15種元素及共存元素的校正
2. 同時實現多于25種元素的定量分析
3. 檢測方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證

開槽式大樣品臺

• 可編程的XY樣品臺
• 樣品腔體積：500 × 450 × 170 mm
• 創新的防撞設計

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